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光電高溫計原地測量有效波長
日期：2025-05-10 21:16
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摘要：
光電高溫計原地測量有效波長
光電高溫計是指用光電池作為敏感元件，其光電流與受熱物體發(fā)出的光束成正比例因而就是受熱物體溫度的度量。以客觀的和無惰性的方式測量受熱物體的溫度，因此既可測量高速進行的工作過程溫度，還可以自動地記錄和調節(jié)這些溫度。
根據普朗克定律測溫的前提之一是準確確定精密光電高溫計的有效波長。它是高溫計光學系統(tǒng)光譜透過率、光電探測器光譜響應及被測溫度的函數(shù)。其數(shù)值主要取決于干涉濾光片的光譜特性。干涉濾光片具有顯著的不均勻性, 必須采用原地測量方法確定高溫計有效波長, 以減小有效波長的不確定度。由于選用的中心波長約為660nm 的干涉濾光片在830 nm 附近有次峰, 其峰值透過率為10-4數(shù)量級。該次峰將導致有效波長在較低溫度時隨溫度降低迅速增大。為減小次峰對有效波長的影響, 在干涉濾光片前加一吸熱玻璃, 使有效波長隨溫度變化顯著減小, 同時也減小了光電探測器光譜響應測量不確定度對有效波長不確定度的影響。加吸熱玻璃前后干涉濾光片的光譜透過率及平均有效波長計算結果。加吸熱玻璃后有效波長隨溫度的變化顯著減小。
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