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光電高溫計的原地測量有效波長
日期：2025-08-30 13:03
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摘要：
光電高溫計是指用光電池作為敏感元件，其光電流與受熱物體發(fā)出的光束成正比例因而就是受熱物體溫度的度量。以客觀的和無惰性的方式測量受熱物體的溫度，因此既可測量高速進(jìn)行的工作過程溫度，還可以自動地記錄和調(diào)節(jié)這些溫度。
根據(jù)普朗克定律測溫的前提之一是準(zhǔn)確確定精密光電高溫計的有效波長。它是高溫計光學(xué)系統(tǒng)光譜透過率、光電探測器光譜響應(yīng)及被測溫度的函數(shù)。其數(shù)值主要取決于干涉濾光片的光譜特性。干涉濾光片具有顯著的不均勻性, 必須采用原地測量方法確定高溫計有效波長, 以減小有效波長的不確定...
光電高溫計是指用光電池作為敏感元件，其光電流與受熱物體發(fā)出的光束成正比例因而就是受熱物體溫度的度量。以客觀的和無惰性的方式測量受熱物體的溫度，因此既可測量高速進(jìn)行的工作過程溫度，還可以自動地記錄和調(diào)節(jié)這些溫度。
根據(jù)普朗克定律測溫的前提之一是準(zhǔn)確確定精密光電高溫計的有效波長。它是高溫計光學(xué)系統(tǒng)光譜透過率、光電探測器光譜響應(yīng)及被測溫度的函數(shù)。其數(shù)值主要取決于干涉濾光片的光譜特性。干涉濾光片具有顯著的不均勻性, 必須采用原地測量方法確定高溫計有效波長, 以減小有效波長的不確定度。由于選用的中心波長約為660nm 的干涉濾光片在830 nm 附近有次峰, 其峰值透過率為10-4數(shù)量級。該次峰將導(dǎo)致有效波長在較低溫度時隨溫度降低迅速增大。為減小次峰對有效波長的影響, 在干涉濾光片前加一吸熱玻璃, 使有效波長隨溫度變化顯著減小, 同時也減小了光電探測器光譜響應(yīng)測量不確定度對有效波長不確定度的影響。加吸熱玻璃前后干涉濾光片的光譜透過率及平均有效波長計算結(jié)果。加吸熱玻璃后有效波長隨溫度的變化顯著減小。
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